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薄膜厚度檢測

橡膠制品與行業(yè)有差距?

配方分析,改善產(chǎn)品缺陷,提升產(chǎn)品性能?

產(chǎn)品出現如斑點(diǎn),油狀物,異物等副產(chǎn)物?


詳細介紹

薄膜厚度檢測是確保薄膜材料性能及質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節,尤其在光學(xué)、電子、包裝、半導體等領(lǐng)域,厚度參數的精確性直接影響產(chǎn)品的透光性、導電性、機械強度及功能穩定性。本服務(wù)基于先進(jìn)的光學(xué)與機械測量技術(shù),結合國際通用的檢測標準,為客戶(hù)提供高精度、高效率的薄膜厚度檢測方案。  

檢測方法涵蓋非接觸式光學(xué)測量(如激光干涉法、白光干涉法、分光光度法)與接觸式機械測量(壓力式面接觸法),可滿(mǎn)足不同材質(zhì)(塑料、金屬鍍層、光學(xué)涂層等)及場(chǎng)景(實(shí)驗室研究、工業(yè)在線(xiàn)檢測)需求。其中,光學(xué)法具有快速、無(wú)損、精度高(可達納米級)的優(yōu)勢;機械法則適用于微觀(guān)不平整薄膜的仲裁檢測,確保數據統一性。  

 

 檢測范圍  

1. 材料類(lèi)型:  

   - 塑料薄膜(BOPP、PET、PE等)  

   - 光學(xué)薄膜(增透膜、反射膜、濾光膜)  

   - 半導體薄膜(硅基薄膜、金屬鍍層)  

   - 包裝材料(復合膜、阻隔膜)  

 

2. 厚度范圍:  

   - 機械法:0.1 μm – 5 mm(適用于仲裁檢測)  

   - 光學(xué)法:1 nm – 1 mm(高精度非接觸測量)  

 

3. 適用場(chǎng)景:  

   - 實(shí)驗室研發(fā)(如納米級光學(xué)涂層驗證)  

   - 工業(yè)生產(chǎn)(在線(xiàn)厚度監控與質(zhì)量管控)  

   - 質(zhì)量仲裁(符合國際標準方法的權威檢測)  

 

 

 測試標準  

1. GB/T 6672-2001  

   《塑料薄膜和薄片厚度測定 機械測量法》  

   - 方法:壓力式面接觸法,采用恒定壓力(如1 kPa)與標準接觸面積,消除微觀(guān)起伏對測量結果的影響。  

   - 適用:塑料薄膜、包裝材料的仲裁檢測。  

 

2. ISO 4591:1992  

   《塑料 薄膜和薄片 機械掃描法測定厚度》  

   - 方法:機械掃描法,適用于連續測量薄膜厚度分布。  

 

3. ASTM E252-06  

   《用稱(chēng)重法測定箔、薄膜和金屬片厚度的標準試驗方法》  

   - 方法:通過(guò)單位面積質(zhì)量與材料密度換算厚度,適用于金屬鍍層與均質(zhì)薄膜。  

 

4. ISO 2808:2019  

   《色漆和清漆 漆膜厚度的測定》  

   - 方法:結合光學(xué)干涉儀或渦流儀,適用于涂層厚度檢測。