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鍍層厚度檢測

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詳細介紹

鍍層厚度測量是評價(jià)電鍍工藝好壞和電鍍產(chǎn)品是否符合技術(shù)規范要求的一種重要手段。電鍍厚度檢測方法有破壞法和非破壞法兩大類(lèi)。破壞法主要有顯微鏡法、庫侖法、重量法、輪廓儀法、掃描電鏡法,非破壞法主要有磁性法、渦流法、X射線(xiàn)光譜法等。

不同鍍層厚度檢測方法之比較:

檢測方法

測試標準

適用范圍

顯微鏡法

(金相法)

GB/T 6462

ISO 1463

ASTM B487

JIS H 8501

適合測量單層或多層金屬覆蓋層厚度

鍍層厚度不小于0.8μm

測量范圍:1∽數百μm

庫侖法

GB/T 4955

ISO 2177

ASTM B504

JIS H 8501

適合測量單層或多層金屬覆蓋層厚度

常測鍍層種類(lèi):Au、Ag、Zn、Cu、Ni、Cr

測量范圍:0.25100μm

磁性法

GB/T 4956

ISO 2178

ASTM B499

JIS H 8501

適用于磁性基體上的非磁性覆蓋層厚度測量

測量范圍:57500μm

渦流法

GB/T 4957

ISO 2360

ASTM B244

JIS H 8501

適合測量非磁性基體上非導電覆蓋層和非導體上金屬覆蓋層厚度

測量范圍:52000μm

X-射線(xiàn)光譜法

GB/T 16921

ISO 3497

ASTM B568

JIS H 8501

可測量最多三層的金屬覆蓋層厚度

測量范圍:0.2530μm

掃描電鏡法(SEM

GB/T 31563

ISO 9220

ASTM B748

JIS H 8501

適合測量單層或多層金屬覆蓋層厚度

測量范圍:1∽數百μm

 

標準參考:

GB/T 6462-2005 金屬和氧化物覆蓋層 厚度測量 顯微鏡法

GB/T 4955-2005 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 陽(yáng)極溶解庫侖法

GB/T 4956-2003 磁性基體上非磁性覆蓋層 覆蓋層厚度測量 磁性法

GB/T 4957-2003 非磁性基體金屬上非導電覆蓋層 渦流法

GB/T 16921-2005 金屬覆蓋層覆蓋層 厚度測量 X射線(xiàn)光譜方法

GB/T 31563-2015 金屬覆蓋層 厚度測量 掃描電鏡法

ASTM B487-24通過(guò)橫截面顯微鏡檢查測量金屬和氧化物涂層厚度的標準試驗方法

ASTM B504-90(2023) 用庫侖法測量金屬鍍層厚度的標準試驗方法

ASTM B499-09(2021)e1 用磁性法測量磁性基體金屬上的非磁性涂層的涂層厚度的標準試驗方法

ASTM B244-09(2021) 用渦流儀測量鋁陽(yáng)極涂層及其它非磁性基體金屬非導電涂層厚度的標準試驗方法

ASTM B568-98(2021) 用X射線(xiàn)光譜儀測量覆蓋層厚度的標準試驗方法

ASTM B748-90(2021) 金屬覆蓋層厚度測量 掃描電鏡法

JIS H 8501:1999 金屬覆蓋層厚度試驗方法