詳細介紹
鍍層厚度測量是評價(jià)電鍍工藝好壞和電鍍產(chǎn)品是否符合技術(shù)規范要求的一種重要手段。電鍍厚度檢測方法有破壞法和非破壞法兩大類(lèi)。破壞法主要有顯微鏡法、庫侖法、重量法、輪廓儀法、掃描電鏡法，非破壞法主要有磁性法、渦流法、X射線(xiàn)光譜法等。
不同鍍層厚度檢測方法之比較:
檢測方法 | 測試標準 | 適用范圍 |
顯微鏡法 （金相法） | GB/T 6462 ISO 1463 ASTM B487 JIS H 8501 | 適合測量單層或多層金屬覆蓋層厚度 鍍層厚度不小于0.8μm 測量范圍：1∽數百μm |
庫侖法 | GB/T 4955 ISO 2177 ASTM B504 JIS H 8501 | 適合測量單層或多層金屬覆蓋層厚度 常測鍍層種類(lèi)：Au、Ag、Zn、Cu、Ni、Cr 測量范圍：0.25∽100μm |
磁性法 | GB/T 4956 ISO 2178 ASTM B499 JIS H 8501 | 適用于磁性基體上的非磁性覆蓋層厚度測量 測量范圍：5∽7500μm |
渦流法 | GB/T 4957 ISO 2360 ASTM B244 JIS H 8501 | 適合測量非磁性基體上非導電覆蓋層和非導體上金屬覆蓋層厚度 測量范圍：5∽2000μm |
X-射線(xiàn)光譜法 | GB/T 16921 ISO 3497 ASTM B568 JIS H 8501 | 可測量最多三層的金屬覆蓋層厚度 測量范圍：0.25∽30μm |
掃描電鏡法（SEM） | GB/T 31563 ISO 9220 ASTM B748 JIS H 8501 | 適合測量單層或多層金屬覆蓋層厚度 測量范圍：1∽數百μm |
標準參考：
GB/T 6462-2005 金屬和氧化物覆蓋層 厚度測量 顯微鏡法
GB/T 4955-2005 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 陽(yáng)極溶解庫侖法
GB/T 4956-2003 磁性基體上非磁性覆蓋層 覆蓋層厚度測量 磁性法
GB/T 4957-2003 非磁性基體金屬上非導電覆蓋層 渦流法
GB/T 16921-2005 金屬覆蓋層覆蓋層 厚度測量 X射線(xiàn)光譜方法
GB/T 31563-2015 金屬覆蓋層 厚度測量 掃描電鏡法
ASTM B487-24通過(guò)橫截面顯微鏡檢查測量金屬和氧化物涂層厚度的標準試驗方法
ASTM B504-90(2023) 用庫侖法測量金屬鍍層厚度的標準試驗方法
ASTM B499-09(2021)e1 用磁性法測量磁性基體金屬上的非磁性涂層的涂層厚度的標準試驗方法
ASTM B244-09(2021) 用渦流儀測量鋁陽(yáng)極涂層及其它非磁性基體金屬非導電涂層厚度的標準試驗方法
ASTM B568-98(2021) 用X射線(xiàn)光譜儀測量覆蓋層厚度的標準試驗方法
ASTM B748-90(2021) 金屬覆蓋層厚度測量 掃描電鏡法
JIS H 8501:1999 金屬覆蓋層厚度試驗方法
金屬材料檢測
倉儲貨架檢測
無(wú)損探傷檢測
高分子及復合材料
涂鍍產(chǎn)品檢測
可靠性測試
失效分析
環(huán)保測試
