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低溫可靠性測試

模擬極端環(huán)境,確保其在各種環(huán)境中穩定工作。

模擬惡劣條件,試驗能提前暴露設計或制造中的缺陷,便于改進(jìn)。

確保其在實(shí)際使用中能承受預期應力,延長(cháng)產(chǎn)品壽命。

許多行業(yè)有嚴格的可靠性標準,試驗確保產(chǎn)品符合這些要求。

詳細介紹

低溫環(huán)境可靠性測試是驗證工業(yè)產(chǎn)品在極端低溫條件下功能完整性與耐久性的核心質(zhì)量保障手段。隨著(zhù)電子設備、汽車(chē)零部件、航空航天器件等產(chǎn)品應用場(chǎng)景向高緯度、高海拔等嚴苛環(huán)境拓展,低溫測試已成為產(chǎn)品研發(fā)、型式檢驗及入市認證的強制性技術(shù)環(huán)節。

 

本測試體系通過(guò)精準模擬40℃至+10℃區間環(huán)境應力,系統性評估材料性能衰減、元器件失效、潤滑劑凝固、密封結構脆化等低溫敏感問(wèn)題。區別于常規溫變測試,專(zhuān)業(yè)低溫可靠性試驗要求控溫精度≤±1℃(依據IEC 60068-2-1),并同步監測試件電性能參數、機械特性等關(guān)鍵指標,確保測試結果可有效指導產(chǎn)品低溫適應性改進(jìn)。

 

 檢測范圍

1. 低溫工作試驗  

驗證設備在設定低溫條件下持續運行時(shí)的功能穩定性(如顯示屏響應延遲、電池放電效率衰減等),測試時(shí)長(cháng)通常覆蓋12-72小時(shí)全負荷工作周期。

 

2. 低溫貯存試驗  

模擬產(chǎn)品在非工作狀態(tài)下長(cháng)期暴露于低溫環(huán)境后的性能恢復能力(典型場(chǎng)景:極地科考設備冬季倉儲)。

 

3. 低溫啟動(dòng)試驗  

量化關(guān)鍵設備在-40以下冷啟動(dòng)時(shí)的最低工作電壓、啟動(dòng)耗時(shí)等參數,適用于新能源汽車(chē)電機控制器、衛星通訊模塊等有嚴苛冷啟動(dòng)要求的產(chǎn)品。

 

4. 低溫循環(huán)試驗  

通過(guò)高低溫交變(-55℃?+85)加速材料熱脹冷縮效應,檢測焊點(diǎn)斷裂、涂層剝落等潛在缺陷,循環(huán)次數依據產(chǎn)品壽命指標設定。

 

5. 低溫濕熱復合試驗  

驗證熱帶/寒帶交替氣候區設備在低溫高濕(如10℃/95%RH)環(huán)境下的絕緣性能劣化風(fēng)險,測試程序需滿(mǎn)足GJB 150.9A-2009軍用裝備環(huán)境試驗標準。

 

測試標準

基礎標準 

IEC 60068-2-1《環(huán)境試驗 第2-1部分:試驗方法 試驗A:低溫》  

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫  

 

行業(yè)專(zhuān)項標準

MIL-STD-810G 方法502.5(軍用設備低溫試驗)  

ISO 16750-4:2010 道路車(chē)輛電氣電子設備低溫試驗  

JESD22-A119B 半導體器件低溫存儲試驗